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漆膜测厚仪的测量原则

漆膜测厚仪的测量原则

 

 

 

漆膜测厚仪的测量原则

 

 

 

 

 

 

漆膜测厚仪的测量原则

1、覆盖层厚度大于25μm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比;

2、基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关; 

3、任何一种都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响; 

4、涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的. 

5、试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大; 

6、基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大; 

7、漆膜测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应清除测头 和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试。 

 

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